Automatische konfokale Raman Spektroskopie mit Raster-Kraft-Mikroskopie (AFM)

Konfokales Raman-Sprektroskop
© Fraunhofer IVV

Charakterisierung der Oberflächenbeschaffenheit von Verpackungsmaterialien mithilfe der Raman-Spektroskopie

Mit der Kombination aus konfokaler Raman Spektroskopie und Raster-Kraft-Mikroskopie sind genaueste Untersuchungen von Verpackungsmaterialien möglich. Aufbau, Struktur und Zusammensetzung von Verbundfolien können exakt bestimmt werden. Die Oberflächenbeschaffenheit von Materialien lässt sich bis in den Nanometerbereich charakterisieren.

Mit der Ramanspektroskopie, ähnlich wie mit der Infrarotspektroskopie, werden Atomschwingungsbanden registriert. Dabei wird die Probe mit monochromatischem Licht bestrahlt und das Streulicht spektroskopisch analysiert. Durch die Kombination von Raman Spektroskopie mit einem Raster-Kraft-Mikroskop können spektroskopische und topographische Untersuchungen auf demselben Probenbereich durchgeführt werden.

Raman-Tiefenscan
© Fraunhofer IVV

Raman-Tiefenscan einer 5-Schicht-Verbundfolie

AFM-Messung einer Kunststofffolie
© Fraunhofer IVV

AFM einer Kunststofffolie

Konfokale Raman Spektroskopie –
3-D berührungsfreie Bestimmung von chemischen Eigenschaften: 

Die Ramanspektroskopie lässt materialcharakteristische Atomschwingungen von Materialien ohne spezifische Präparation dreidimensional mit einer hohen räumlichen Auflösung abbilden.

Anwendungsbeispiele:

  • berührungsfreie Bestimmung von Materialien
  • Analyse von Verbundfolien: Struktur, Aufbau, Schichtdicke
  • Bestimmung der Kristallinität

 

Topografische Untersuchungen von Oberflächen mit Raster-Kraft-Mikroskop (AFM):

Topographie und Rauheit von Materialoberflächen in nm-Dimension.